Regress Pro

Regress Pro wetenschappelijke / industriële software die kan worden gebruikt om de experimentele gegevens uit spectroscopische ellipsometers of reflectometers studie.
Regress Pro is vooral ontwikkeld voor het aanbrengen van dunne film meting in de halfgeleiderindustrie.
De software is geschikt zowel voor de dikte van de lagen te bepalen en om de optische eigenschappen van diëlektrische materialen te bepalen

Wat nieuw in deze versie:.

• Deze versie lost een aantal bugs en een aantal kleine usability problemen te verbeteren. Dit is een aanbevolen upgrade voor alle gebruikers van Regress Pro.

Wat is nieuw in versie 1.4.0:.

• Deze versie introduceert vele verbeteringen
• De belangrijkste is de toevoeging van een interactieve fit sessie, die gebruikers in staat stelt om te experimenteren met experimentele spectra en modellen.
• Een nieuwe dispersie optimizer is geïmplementeerd om een ​​model interactief aan te passen aan een referentie-dispersie.
• De grafische engine werd volledig herschreven om de antigrain library (AGG) te gebruiken.
• Het handboek werd ook bijgewerkt om de nieuwe functies weer te geven en een aantal ontbrekende onderdelen toe te voegen.

Wat is nieuw in versie 1.3.2:

• Er is ondersteuning toegevoegd om meerdere spectra aan het passen Tegelijkertijd met zowel gedeeld en sample-specifieke fit parameters. Deze techniek is van groot belang met het oog om meer robuuste resultaten te leveren door het controleren van model met meerdere onafhankelijke steekproeven.
• Het raster zoekalgoritme werd ook verbeterd.

Eisen

• GNU Scientific Library
• FOX