Image SXM is een versie van de beeldsimulatiesoftware voor openbare domeinen NIH Image die is uitgebreid om het laden, weergeven en analyseren van scanmicroscoopbeelden te verzorgen. Image SXM ondersteunt SAM-, SCM-, SEM-, SFM-, SLM-, SNOM-, SPM- en STM-afbeeldingen van de volgende systemen: Asylum Research, Burleigh Instruments, digitale instrumenten NanoScope II-III-IV, DME Rasterscope, DME Surface Data File, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomikro, Leica LIF, Leica TCS, LEO SEM, Molecular Imaging PicoScan, NanoMagnetics Instruments SPMSIF, Nanonics Imaging, Nanonis, Nanosurf easyScan, Nanotec Electronica WSxM, Noran Instruments Vantage, NT -MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instruments TOPSystem, Park Scientific Instruments HFS-LIF, Park Scientific Instruments HDF, Philips SEM, Quesant Instruments, RHK Technology SPM-32, RHK Technology XPM Pro, Seiko Instruments (SIINT) SPI, SPECS STM Aarhus, Thermo Microscopes, TopoMetrix SPMLab, Unisoku, Vacuum Generators SAM, Veeco Innova, WA Technology, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM.
Wat is nieuw in deze release:
- Beperkende ROI's tot power-of-2-formaten om FFT-bewerkingen toe te staan, werken nu door op de tabtoets te drukken
- Wijzigingen in 'Bacterial MicroCompartments'-analyse
Wat is nieuw in versie 197:
- Beperkende ROI's tot power-of-2-formaten om FFT-bewerkingen toe te staan, werken nu door op de tabtoets te drukken
- Wijzigingen in 'Bacterial MicroCompartments'-analyse
Reacties niet gevonden